非晶硅平板为啥要经常校正

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非晶硅平板探测器，初始校正时为空气校正，非铝梯校正，刚校好后，效果不错。但用几个月，图像就会有条纹或白点，重新校正后可好。检查室中温湿度很好，是平板探测器本身不稳定吧？说非晶硒的平板不稳定，怎么非晶硅的也这么差呀！

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探测器的漂移：影响探测器工作的环境因素随时间的变化如温度，湿度，气压，电磁环境等会导致探测器的输出的变化，这些变化称为探测器的漂移 探测器图像的漂移校正及空间非均匀性校正 
  漂移校正及空间非均匀性校正基于以下的原理： 1） 
曝光后所获得的探测器输出Prow=Px+Poffset.;&#160offset为曝光时所采集图像中暗电荷引起的像元值，Px为由X射线照射所引起的实际像元值及有用像元信息值。固Px =&#160row -Poffset  ，而式中的Poffset在图像采集时是没法直接得到，由于Poffset由外界环境变化所导致因而是渐变的，它可以用曝光前采集的暗图像像元值P‘offset来近似。因此实际的曝光图像可用曝光后和曝光前所采集的两幅图像相减来获得。 2） 
基于在应用范围内探测器像元的响应是线性的特性，Pxn=AnX,An为该像元的转换系数。由于不同的像元An 不完全相同，所以Pxn并不能代表像元处入射X射线的真实大小。因此还需求出各像元的An来加以修正。An可以用标准剂量的均匀X射线曝光采集来获得及An=PNgain/Xgain。PNgain为在标准Xgain剂量下所采集的参考图像。通过应用参考图像的修正，最终可获得入射X射线所包含的真实信息。由于An在探测器的工作过程中是长期保持稳定的，因此仅需定期采集参考图像即可。 
  综上所述可以采用以下的计算方法来完成漂移校正及空间非均匀性校正。            &#160n=C(PNrow –PNrawoffset)/(PNgain-PNgainoffset)     &#160n:校正后最终像元值 
    &#160Nrow:曝光后采集获得的像元值     &#160Nrowoffset:曝光前的暗像元值     &#160Ngain:参考图像曝光采集值 
    &#160Ngainoffset:参考图像曝光前所采集的暗像元值 
     Ｃ为一个常数通常可通过设定标准剂量下图像目标亮度值来确定。     采用以上的校正方法逐点校正整幅图像即可获得稳定的反映入射Ｘ射线真实信息的数字化图像

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非晶硅对环境的要求没非晶硒那么高，但是也务必注意温度为21到24度，增加除湿机，湿度40-60.对于平板球馆大都还是建议外部环境保持好些。17757157170

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建议有伪影时，或难以消除的线，斑点等才做，提示校准不用管它，也就开机时出现下